涂層測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)的一些不確定因素如下：

　　1.附著物質(zhì)影響

　　本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

　　2.強(qiáng)磁場(chǎng)干擾

　　實(shí)驗(yàn)表明，當(dāng)儀器在10000V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

　　3.系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適基體

　　基體最小平面為10mm，最小厚度為0.45mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

　　4.人為因素

　　該情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)橥繉訙y(cè)厚儀能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。

　　以上就是關(guān)于影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)的一些不可控因素，我們?cè)谏a(chǎn)過程中要盡量避免這些因素。